パッシブ型ラドン測定システムに関する国際規格策定プロジェクト始動

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パッシブ型ラドン測定システムの例(右下:パッシブ型ラドン測定器、右上:固体飛跡検出器エッチング装置、左:飛跡密度測定装置)

国際電気標準会議(IEC)は、電気機器等の国際規格を策定する国際標準化機関です。計測技術・物理線量評価部門の床次眞司教授と大森康孝准教授は、IEC/TC45/SC45B/WGB10に専門委員として所属し、ラドン及びラドン壊変生成物測定装置に関する国際規格(IEC 61577シリーズ)を策定しています。
この度、日本が主導して提案したパッシブ型ラドン測定システムの規格策定に関するプロジェクトが正式に承認されました。今後は、床次教授がプロジェクトリーダーとして本プロジェクトを取りまとめ、3年後の規格の発行を目指します。

パッシブ型ラドン測定システムの例(右下:パッシブ型ラドン測定器、右上:固体飛跡検出器エッチング装置、左:飛跡密度測定装置)

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